System-on-chip test architectures: nanometer design for testability/
| Other Authors: | , |
|---|---|
| Format: | Book |
| Language: | English |
| Published: |
Amsterdam ; Boston:
Elsevier/Morgan Kaufmann Publishers,
c2008
|
| Series: | The Morgan Kaufmann series in systems on silicon
|
| Subjects: |
| Βιβλιοθήκη | Ταξιθετικός αριθμός | Αριθμός Αντιτύπων | Πληροφορίες | Κατάσταση |
|---|---|---|---|---|
| Πανεπιστήμιο Κύπρου - Ανοιχτό Πανεπιστήμιο Κύπρου | TK7895.E42S978 2008 | 1 | Προβολή | OPAC |