LSI/VLSI testability design/

Main Author: Tsui, Frank F.
Format: Book
Language:English
Published: New York: McGraw-Hill, c1988
Series:Electrical/Control engineering series
Subjects:
ΒιβλιοθήκηΤαξιθετικός αριθμόςΑριθμός ΑντιτύπωνΠληροφορίεςΚατάσταση
Εθνικό και Καποδιστριακό Πανεπιστήμιο Αθηνών621.3950287 TsuF l 19881ΠροβολήOPAC