System-on-chip test architectures nanometer design for testability /
| Corporate Author: | |
|---|---|
| Other Authors: | |
| Format: | Book |
| Language: | English |
| Published: |
Amsterdam ; Boston :
Morgan Kaufmann Publishers,
c2008.
|
| Series: | The Morgan Kaufmann series in systems on silicon
|
| Subjects: | |
| Online Access: | http://site.ebrary.com/lib/ucy/Doc?id=10203465 |
Internet
http://site.ebrary.com/lib/ucy/Doc?id=10203465| Βιβλιοθήκη | Ταξιθετικός αριθμός | Αριθμός Αντιτύπων | Πληροφορίες | Κατάσταση |
|---|---|---|---|---|
| Πανεπιστήμιο Κύπρου - Ανοιχτό Πανεπιστήμιο Κύπρου | - | 1 | Προβολή | OPAC |