Essentials of electronic testing for digital, memory, and mixed signal VLSI circuits

Main Author: Bushnell, Michael L. 1950-
Corporate Author: ebrary, Inc.
Other Authors: Agrawal, Vishwani D.,
Format: Book
Language:English
Published: New York : Kluwer Academic, c2002.
Series:Frontiers in electronic testing ; 17
Subjects:
Online Access:http://site.ebrary.com/lib/ucy/Doc?id=10053265

Internet

http://site.ebrary.com/lib/ucy/Doc?id=10053265
ΒιβλιοθήκηΤαξιθετικός αριθμόςΑριθμός ΑντιτύπωνΠληροφορίεςΚατάσταση
Πανεπιστήμιο Κύπρου - Ανοιχτό Πανεπιστήμιο Κύπρου-1ΠροβολήOPAC