Essentials of electronic testing for digital, memory, and mixed-signal VLSI circuits/
Main Author: | |
---|---|
Other Authors: | |
Format: | Book |
Language: | English |
Published: |
Boston:
Kluwer Academic,
2004, c2000
|
Series: | Frontiers in electronic testing
17 |
Subjects: |
Βιβλιοθήκη | Ταξιθετικός αριθμός | Αριθμός Αντιτύπων | Πληροφορίες | Κατάσταση |
---|---|---|---|---|
Πανεπιστήμιο Κύπρου - Ανοιχτό Πανεπιστήμιο Κύπρου | TK7874.75.B87 2004 | 1 | Προβολή | OPAC |