Essentials of electronic testing for digital, memory, and mixed-signal VLSI circuits/

Main Author: Bushnell, Michael L., 1950-
Other Authors: Agrawal, Vishwani D.,
Format: Book
Language:English
Published: Boston: Kluwer Academic, 2004, c2000
Series:Frontiers in electronic testing 17
Subjects:
ΒιβλιοθήκηΤαξιθετικός αριθμόςΑριθμός ΑντιτύπωνΠληροφορίεςΚατάσταση
Πανεπιστήμιο Κύπρου - Ανοιχτό Πανεπιστήμιο ΚύπρουTK7874.75.B87 20041ΠροβολήOPAC