X-ray microscopy and spectromicroscopy : statue report from the fifth international conference, Wόrzburg, August 19-23, 1996 /
Corporate Author: | |
---|---|
Other Authors: | |
Format: | Book |
Language: | English |
Published: |
Berlin ;
Springer ,
c1998 .
New York : |
Subjects: |
Βιβλιοθήκη | Ταξιθετικός αριθμός | Αριθμός Αντιτύπων | Πληροφορίες | Κατάσταση |
---|---|---|---|---|
ΤΕΙ Αθήνας | 502.82 RAY | 1 | Προβολή | OPAC |