Scanning electron microscopy and x-ray microanalysis /

Other Authors: Goldstein, Joseph,
Format: Book
Language:English
Published: New York : Kluwer Academic/Plenum Publishers, c2003.
Edition:3rd ed.
Subjects:
ΒιβλιοθήκηΤαξιθετικός αριθμόςΑριθμός ΑντιτύπωνΠληροφορίεςΚατάσταση
Εθνικό Μετσόβιο Πολυτεχνείο502.825 SCA1ΠροβολήOPAC
Τεχνολογικό Πανεπιστήμιο Κύπρου8ΠροβολήOPAC