Scanning electron microscopy and x-ray microanalysis /
Other Authors: | |
---|---|
Format: | Book |
Language: | English |
Published: |
New York :
Kluwer Academic/Plenum Publishers,
c2003.
|
Edition: | 3rd ed. |
Subjects: |
Βιβλιοθήκη | Ταξιθετικός αριθμός | Αριθμός Αντιτύπων | Πληροφορίες | Κατάσταση |
---|---|---|---|---|
Εθνικό Μετσόβιο Πολυτεχνείο | 502.825 SCA | 1 | Προβολή | OPAC |
Τεχνολογικό Πανεπιστήμιο Κύπρου | 8 | Προβολή | OPAC |