Scanning electron microscopy physics of image formation and microanalysis /
| Main Author: | |
|---|---|
| Format: | Book |
| Language: | English |
| Published: |
Berlin New York :
Springer,
c1998
|
| Edition: | 2nd completely rev. and updated ed. |
| Series: | Springer series in optical sciences ;
v. 45 |
| Subjects: |
| Βιβλιοθήκη | Ταξιθετικός αριθμός | Αριθμός Αντιτύπων | Πληροφορίες | Κατάσταση |
|---|---|---|---|---|
| Εθνικό και Καποδιστριακό Πανεπιστήμιο Αθηνών | 502.825 ReiL s 1998 | 1 | Προβολή | OPAC |
| Εθνικό Μετσόβιο Πολυτεχνείο | 502.825 REI | 1 | Προβολή | OPAC |