Developments in integrated circuit testing/

Corporate Author: Academic Press
Other Authors: Miller, D. M.
Format: Book
Language:English
Published: London: Academic, 1987
Series:Perspectives in computing v.18
Subjects:
ΒιβλιοθήκηΤαξιθετικός αριθμόςΑριθμός ΑντιτύπωνΠληροφορίεςΚατάσταση
Δημοκρίτειο Πανεπιστήμιο ΘράκηςTK 78741ΠροβολήOPAC