Random testing of digital circuits: theory and applications/

Main Author: David, Rene, 1939-
Format: Book
Language:English
Published: New York: Marcel Dekker, c1998
Subjects:
ΒιβλιοθήκηΤαξιθετικός αριθμόςΑριθμός ΑντιτύπωνΠληροφορίεςΚατάσταση
ΤΕΙ ΚρήτηςTK7874 .D365 19981ΠροβολήOPAC
Πανεπιστήμιο Κύπρου - Ανοιχτό Πανεπιστήμιο ΚύπρουTK7874.D365 19981ΠροβολήOPAC