Random testing of digital circuits: theory and applications/
Main Author: | |
---|---|
Format: | Book |
Language: | English |
Published: |
New York:
Marcel Dekker,
c1998
|
Subjects: |
Βιβλιοθήκη | Ταξιθετικός αριθμός | Αριθμός Αντιτύπων | Πληροφορίες | Κατάσταση |
---|---|---|---|---|
ΤΕΙ Κρήτης | TK7874 .D365 1998 | 1 | Προβολή | OPAC |
Πανεπιστήμιο Κύπρου - Ανοιχτό Πανεπιστήμιο Κύπρου | TK7874.D365 1998 | 1 | Προβολή | OPAC |