Holdings: Random testing of digital circuits :theory & application /

Main Author:	David, Ren , 1939-
Format:	Book
Language:	English
Published:	New York : Marcel Dekker , c1998 .
Subjects:	Digital integrated circuits > Testing

Βιβλιοθήκη	Ταξιθετικός αριθμός	Αριθμός Αντιτύπων	Πληροφορίες	Κατάσταση
ΤΕΙ Αθήνας	-	1	Προβολή	OPAC