Digital hardware testing: transistor-level fault modeling and testing/

Main Author: Rajsuman, Rochit
Format: Book
Language:English
Published: Boston: Artech House, c1992
Series:Artech House telecommunications library
Subjects:
ΒιβλιοθήκηΤαξιθετικός αριθμόςΑριθμός ΑντιτύπωνΠληροφορίεςΚατάσταση
Πανεπιστήμιο Κύπρου - Ανοιχτό Πανεπιστήμιο ΚύπρουTK7888.4.R35 19921ΠροβολήOPAC