VLSI fault modeling and testing techniques/

Other Authors: Zobrist, George W.
Format: Book
Language:English
Published: Norwood, NJ: Ablex Publication, c1993
Series:VLSI design automation series
Subjects:
ΒιβλιοθήκηΤαξιθετικός αριθμόςΑριθμός ΑντιτύπωνΠληροφορίεςΚατάσταση
Πανεπιστήμιο Κύπρου - Ανοιχτό Πανεπιστήμιο ΚύπρουTK7874.V5625 19931ΠροβολήOPAC