Beam effects, surface topography, and depth profiling in surface analysis
| Corporate Author: | |
|---|---|
| Other Authors: | |
| Format: | Book |
| Language: | English |
| Published: |
New York :
Plenum Press,
c1998.
|
| Series: | Methods of surface characterization ;
v. 5 |
| Subjects: | |
| Online Access: | http://site.ebrary.com/lib/ucy/Doc?id=10046976 |
Internet
http://site.ebrary.com/lib/ucy/Doc?id=10046976| Βιβλιοθήκη | Ταξιθετικός αριθμός | Αριθμός Αντιτύπων | Πληροφορίες | Κατάσταση |
|---|---|---|---|---|
| Πανεπιστήμιο Κύπρου - Ανοιχτό Πανεπιστήμιο Κύπρου | - | 1 | Προβολή | OPAC |