Precision landmark location for machine vision and photogrammetry : finding and achieving the maximum possible accuracy /
| Main Author: | |
|---|---|
| Other Authors: | |
| Format: | Book |
| Language: | English |
| Published: |
London :
Springer,
c2008.
|
| Subjects: | |
| Online Access: | http://www.loc.gov/catdir/toc/fy0803/2007936782.html http://dx.doi.org/10.1007/978-1-84628-913-2 |
Internet
http://www.loc.gov/catdir/toc/fy0803/2007936782.htmlhttp://dx.doi.org/10.1007/978-1-84628-913-2
| Βιβλιοθήκη | Ταξιθετικός αριθμός | Αριθμός Αντιτύπων | Πληροφορίες | Κατάσταση |
|---|---|---|---|---|
| Τεχνολογικό Πανεπιστήμιο Κύπρου | - | 1 | Προβολή | OPAC |