A reliability, yield, and stress burn-in : a unified approach for microelectronics systems manufacturing and soft ware development /
| Main Author: | |
|---|---|
| Other Authors: | , |
| Format: | Book |
| Language: | English |
| Published: |
Dordrecht :
Kluwer Academic,
c1998
|
| Subjects: |
| Βιβλιοθήκη | Ταξιθετικός αριθμός | Αριθμός Αντιτύπων | Πληροφορίες | Κατάσταση |
|---|---|---|---|---|
| Εθνικό και Καποδιστριακό Πανεπιστήμιο Αθηνών | 621.381 KuoW r 1998 | 1 | Προβολή | OPAC |