New horizons in testing : latent trait test theory and computerized adaptive testing /

Corporate Authors: United States. Office of Naval Research, Computerized Adaptive Testing Conference
Other Authors: Weiss, David J., Bock, R. Darrell.
Format: Book
Language:English
Published: New York : Academic Press, 1983.
Subjects:
ΒιβλιοθήκηΤαξιθετικός αριθμόςΑριθμός ΑντιτύπωνΠληροφορίεςΚατάσταση
Πανεπιστήμιο Μακεδονίας-1ΠροβολήOPAC