Yield and reliability in microwave circuit and system design/

Main Author: Meehan, Michael D.
Corporate Author: Artech House
Other Authors: Purviance, John
Format: Book
Language:English
Published: Boston: Artech House, c1993
Series:Artech House microwave library
Subjects:
ΒιβλιοθήκηΤαξιθετικός αριθμόςΑριθμός ΑντιτύπωνΠληροφορίεςΚατάσταση
Εθνικό Μετσόβιο Πολυτεχνείο621.38132 MEE1ΠροβολήOPAC
Δημοκρίτειο Πανεπιστήμιο ΘράκηςTK 78761ΠροβολήOPAC