Testing for EMC compliance: approaches and techniques/

Main Author: Montrose, Mark I.
Corporate Authors: Wiley, IEEE Electromagnetic Compatibility Society
Other Authors: Nakauchi, Edward M.
Format: Book
Language:English
Published: Hoboken, NJ: John Wiley, 2004
Subjects:
LEADER 01860nam a2200409 a 4500
001 2012924
005 20171112000001.0
008 070226s2004 xu r 000 0 eng d
020 |a 047143308X 
040 |a ΤΕΙ ΣΕΡΡΩΝ  |b gre 
082 0 |2 22 ed.  |a 621.38224 
082 0 |2 22  |a 621.38224 
082 0 |2 22  |a 621.38224 MON 
100 1 0 |a Montrose, Mark I. 
245 1 0 |a Testing for EMC compliance:   |b approaches and techniques/  |c Mark I. Montrose, Edward M. Nakauchi 
260 1 0 |a Hoboken, NJ:  |b John Wiley,  |c 2004 
300 1 0 |a xviii, 460 σ. :  |b εικ. ;  |c 24 εκ. 
500 1 0 |a Χρησιδάνειο: ΤΕΙ Σερρών ΕΠΕΑΕΚ II Ενέργεια 2.2.3. ΣΤ (πρώην Ζ) - Ενίσχυση Ερευνητικών Ομάδων στα ΤΕΙ - ΑΡΧΙΜΗΔΗΣ I 
500 1 0 |a IEEE Electromagnetic Compatibility Society, Sponsor 
504 1 0 |a Βιβλιογραφία: σ. 447-451 και ευρετήριο 
504 1 0 |a Βιβλιογραφία: σ. 447-451. Ευρετήριο 
504 1 0 |a Includes bibliography and index. 
650 1 7 |a Ηλεκτρομαγνητική συμβατότητα 
650 1 7 |a Ηλεκτρομαγνητική παρεμβολή 
650 1 0 |a Electromagnetic compatibility 
650 1 7 |a Ηλεκτρομαγνητική συμβατότητα 
650 1 0 |a Electromagnetic interference 
650 1 7 |a Ηλεκτρομαγνητική παρεμβολή 
650 1 0 |a Electromagnetic compatibility 
650 1 0 |a Electromagnetic interference 
700 1 0 |a Nakauchi, Edward M.  
700 1 0 |a Nakauchi, Edward M. 
700 1 0 |a Nakauchi, Edward M. 
710 1 0 |a Wiley 
710 0 0 |a IEEE Electromagnetic Compatibility Society 
952 |a GR-AtNTU  |b 59cc25596c5ad13446f948bd  |c 998a  |d 945l  |e 621.38224 MON  |t 1  |x m  |z Books 
952 |a GR-KaHUA  |b 59cca7526c5ad13446036bc6  |c 998a  |d 945l  |e 621.38224 MON  |t 1  |x m  |z Books