Testing for EMC compliance: approaches and techniques/

Main Author: Montrose, Mark I.
Corporate Authors: Wiley, IEEE Electromagnetic Compatibility Society
Other Authors: Nakauchi, Edward M.
Format: Book
Language:English
Published: Hoboken, NJ: John Wiley, 2004
Subjects:
Item Description:Χρησιδάνειο: ΤΕΙ Σερρών ΕΠΕΑΕΚ II Ενέργεια 2.2.3. ΣΤ (πρώην Ζ) - Ενίσχυση Ερευνητικών Ομάδων στα ΤΕΙ - ΑΡΧΙΜΗΔΗΣ I
IEEE Electromagnetic Compatibility Society, Sponsor
Physical Description:xviii, 460 σ. : εικ. ; 24 εκ.
Bibliography:Βιβλιογραφία: σ. 447-451 και ευρετήριο
Βιβλιογραφία: σ. 447-451. Ευρετήριο
Includes bibliography and index.
ISBN:047143308X