Testing for EMC compliance: approaches and techniques/

Main Author: Montrose, Mark I.
Corporate Authors: Wiley, IEEE Electromagnetic Compatibility Society
Other Authors: Nakauchi, Edward M.
Format: Book
Language:English
Published: Hoboken, NJ: John Wiley, 2004
Subjects:
ΒιβλιοθήκηΤαξιθετικός αριθμόςΑριθμός ΑντιτύπωνΠληροφορίεςΚατάσταση
Εθνικό Μετσόβιο Πολυτεχνείο621.38224 MON1ΠροβολήOPAC
Χαροκόπειο Πανεπιστήμιο621.38224 MON1ΠροβολήOPAC