Spectroscopic ellipsometry : principles and applications /
Main Author: | |
---|---|
Format: | Book |
Language: | English |
Published: |
Chichester, England ; Hoboken, NJ :
John Wiley & Sons,
c2007.
|
Subjects: |
Βιβλιοθήκη | Ταξιθετικός αριθμός | Αριθμός Αντιτύπων | Πληροφορίες | Κατάσταση |
---|---|---|---|---|
Εθνικό Μετσόβιο Πολυτεχνείο | 620.11295 FUJ | 1 | Προβολή | OPAC |
Τεχνολογικό Πανεπιστήμιο Κύπρου | 1 | Προβολή | OPAC |