Applied survival analysis: regression modeling of time-to-event data/

Main Author: Hosmer, David W.
Corporate Author: Wiley-Interscience
Other Authors: Lemeshow, Stanley
Format: Book
Language:English
Published: Hoboken, N.J.: Wiley-Interscience, c2008
Edition:2nd ed.
Series:Wiley series in probability and statistics
Subjects:
ΒιβλιοθήκηΤαξιθετικός αριθμόςΑριθμός ΑντιτύπωνΠληροφορίεςΚατάσταση
Εθνικό Μετσόβιο Πολυτεχνείο610.7 HOS1ΠροβολήOPAC
Δημοκρίτειο Πανεπιστήμιο ΘράκηςR 8532ΠροβολήOPAC