Pattern classification: a unified view of statistical and neural approaches/

Main Author: Schurmann, Jurgen
Corporate Authors: John Wiley & Sons, Wiley
Format: Book
Language:English
Published: New York: Wiley, c1996
Subjects:
ΒιβλιοθήκηΤαξιθετικός αριθμόςΑριθμός ΑντιτύπωνΠληροφορίεςΚατάσταση
Γεωπονικό Πανεπιστήμιο Αθηνών006.4 SCH2ΠροβολήOPAC
Δημοκρίτειο Πανεπιστήμιο ΘράκηςQ 3271ΠροβολήOPAC
ΤΕΙ ΚρήτηςQ327 .S29 19961ΠροβολήOPAC