Pattern classification and scene analysis/

Main Author: Duda, Richard O.
Corporate Author: John Wiley & Sons
Other Authors: Hart, Peter E.
Format: Book
Language:English
Published: New York: Wiley, 1973
Subjects:
ΒιβλιοθήκηΤαξιθετικός αριθμόςΑριθμός ΑντιτύπωνΠληροφορίεςΚατάσταση
Εθνικό Μετσόβιο Πολυτεχνείο006.4 DUD4ΠροβολήOPAC
Πανεπιστήμιο Κύπρου - Ανοιχτό Πανεπιστήμιο ΚύπρουQ327.D83 19732ΠροβολήOPAC