Delay fault testing for VLSI circuits/
| Main Author: | |
|---|---|
| Other Authors: | |
| Format: | Book |
| Language: | English |
| Published: |
Boston ; Dordrecht:
Kluwer Academic Publishers,
c1998
|
| Series: | Frontiers in electronic testing
|
| Subjects: |
| Βιβλιοθήκη | Ταξιθετικός αριθμός | Αριθμός Αντιτύπων | Πληροφορίες | Κατάσταση |
|---|---|---|---|---|
| Πανεπιστήμιο Κύπρου - Ανοιχτό Πανεπιστήμιο Κύπρου | TK7874.75.K77 1998 | 1 | Προβολή | OPAC |