Transmission electron microscopy and diffractometry of materials/
| Main Author: | |
|---|---|
| Other Authors: | |
| Format: | Book |
| Language: | English |
| Published: |
Berlin New York:
Springer,
c2002
|
| Edition: | 2nd ed. |
| Subjects: |
| Βιβλιοθήκη | Ταξιθετικός αριθμός | Αριθμός Αντιτύπων | Πληροφορίες | Κατάσταση |
|---|---|---|---|---|
| Πανεπιστήμιο Κύπρου - Ανοιχτό Πανεπιστήμιο Κύπρου | TA417.23.F85 2002 | 1 | Προβολή | OPAC |