Electromigration and electronic device degradation/
| Corporate Author: | |
|---|---|
| Other Authors: | |
| Format: | Book |
| Language: | English |
| Published: |
New York ; Chichester:
John Wiley & Sons,
c1994
|
| Subjects: |
| Βιβλιοθήκη | Ταξιθετικός αριθμός | Αριθμός Αντιτύπων | Πληροφορίες | Κατάσταση |
|---|---|---|---|---|
| Δημοκρίτειο Πανεπιστήμιο Θράκης | TK 7874 | 1 | Προβολή | OPAC |