Patentgesetz und Gebrauchsmustergesetz : systematischer kommentar /

Corporate Authors: Heymann, Germany (West
Other Authors: Nastelski, Karl, Reimer, Eduard
Format: Book
Language:German
Published: Koln: C. Heymann, 1968
Edition:3. erw. Aufl., neu bearb. von Karl Nastelski .. [u. a.]
Subjects:
ΒιβλιοθήκηΤαξιθετικός αριθμόςΑριθμός ΑντιτύπωνΠληροφορίεςΚατάσταση
Δημοκρίτειο Πανεπιστήμιο ΘράκηςKK 2722 .31ΠροβολήOPAC