New approaches to image processing based failure analysis of nano-scale ULSI devices /
| Main Author: | |
|---|---|
| Other Authors: | , |
| Format: | Book |
| Language: | English |
| Published: |
Amsterdam :
Elsevier/William Andrew,
2014
|
| Series: | Micro and Nano Technologies Series
|
| Subjects: |
| Βιβλιοθήκη | Ταξιθετικός αριθμός | Αριθμός Αντιτύπων | Πληροφορίες | Κατάσταση |
|---|---|---|---|---|
| Διεθνές Πανεπιστήμιο Ελλάδας | 621.38152 ZAL | 1 | Προβολή | OPAC |