Intrinsic point defects, impurities, and their diffusion in silicon /
| Main Author: | |
|---|---|
| Format: | Book |
| Published: |
Wien:
Springer,
c2004
|
| Series: | Computational microelectronics
|
| Subjects: |
| Βιβλιοθήκη | Ταξιθετικός αριθμός | Αριθμός Αντιτύπων | Πληροφορίες | Κατάσταση |
|---|---|---|---|---|
| Εθνικό Μετσόβιο Πολυτεχνείο | 661.0683 PIC | 2 | Προβολή | OPAC |