Defect analysis in electron microscopy/

Corporate Author: Champan & Hall
Other Authors: LORETTO, M. H.
Format: Book
Language:English
Published: London: Chapman and Hall, 1975
Subjects:
LEADER 00763nam a2200253 a 4500
001 620136
005 20171111230401.0
008 991208s1975 r erb ||| b|eng d
020 |a 0412137607 
040 |a GR-IrASP  |b gre  |e AACR2 
082 0 |a 578.45 LOR 
245 0 0 |a Defect analysis in electron microscopy/  |c M. H. Loretto [and] R. E. Chapman 
260 |a London:  |b Chapman and Hall,  |c 1975 
300 |a iv, 134p. :  |b ill., tabl. 
504 |a Bibliography 
650 1 0 |a Biology 
650 1 0 |a ELECTRON 
650 1 0 |a MICROSCOPE 
650 1 0 |a Βιολογία 
650 1 0 |a Ηλεκτρόνια 
650 1 0 |a Μικροσκόπιο 
700 1 |a LORETTO, M. H. 
710 0 |a Champan & Hall 
952 |a GR-IrASP  |b 59cc18466c5ad13446f7051c  |c 998a  |d 945l  |e 578.45 LOR  |t 1  |x m  |z Books