Holdings: Hot-carrier effects in MOS devices /

Main Author:	Takeda, Eiji
Other Authors:	Yang, Cary Y., Miura-Hamada, Akemi
Format:	Book
Published:	San Diego: Academic Press, c1995
Subjects:	Metal oxide semiconductors Hot carriers

Βιβλιοθήκη	Ταξιθετικός αριθμός	Αριθμός Αντιτύπων	Πληροφορίες	Κατάσταση
Εθνικό Μετσόβιο Πολυτεχνείο	537.6225 TAK	1	Προβολή	OPAC