Applied logistic regression /

Main Author: Hosmer, David W.
Other Authors: Lemeshow, Stanley, Cook, Elizabeth Donohoe
Format: Book
Language:English
Published: New York : Wiley, c2000.
Edition:2nd ed.
Subjects:
ΒιβλιοθήκηΤαξιθετικός αριθμόςΑριθμός ΑντιτύπωνΠληροφορίεςΚατάσταση
Πανεπιστήμιο ΜακεδονίαςQA278.2.H67 20001ΠροβολήOPAC