Testability concepts for digital ICs: the macro test approach/

Main Author: Beenker, F. P. M.
Other Authors: Bennetts, R. G., Thijssen, A. P.
Format: Book
Language:English
Published: Dordrecht ; Boston: Kluwer Academic Publishers, c1995
Series:Frontiers in electronic testing
Subjects:
ΒιβλιοθήκηΤαξιθετικός αριθμόςΑριθμός ΑντιτύπωνΠληροφορίεςΚατάσταση
Δημοκρίτειο Πανεπιστήμιο ΘράκηςTK 7874 .651ΠροβολήOPAC
Πανεπιστήμιο Κύπρου - Ανοιχτό Πανεπιστήμιο ΚύπρουTK7874.65.B44 19951ΠροβολήOPAC