VLSI testing: digital and mixed analogue/digital techniques/

Main Author: Hurst, S. L.
Corporate Author: Institution of Electrical Engineers
Format: Book
Language:English
Published: London: Institution of Electrical Engineers, c1998
Series:IEE circuits, devices and systems series 9
Subjects:
LEADER 01729nam a2200325 a 4500
001 2006623
005 20171111235952.0
008 030623s1998 enk r 000 0 eng d
020 |a 0852969015 
040 |a GR-KoDPT  |b gre  |e AACR2 
050 |a TK7874.75  |b .H87 1998 
082 0 |2 21  |a 621.3950287 
082 0 |a 621.38173 
082 0 |2 22 ed.  |a 621.395 
100 1 0 |a Hurst, S. L.  |q (Stanley Leonard) 
245 0 0 |a VLSI testing:   |b digital and mixed analogue/digital techniques/  |c Stanley L. Hurst 
260 0 0 |a London:  |b Institution of Electrical Engineers,  |c c1998 
300 0 0 |a xx, 532 σ. :  |b εικ. ;  |c 24 εκ. 
490 0 0 |a IEE circuits, devices and systems series  |v 9 
500 0 0 |a Χρησιδάνειο από: Τ.Ε.Ι. Σερρών Γ' Κ.Π.Σ. - ΕΠΕΑΕΚ Ενέργεια 2.2.2.γ Ενίσχυση Σπουδών Πληροφορικής  
504 0 0 |a Περιέχει βιβλιογραφικές παραπομπές και ευρετήριο 
504 0 0 |a Περιέχει βιβλιογραφικές αναφορές και ευρετήριο 
650 0 0 |a Integrated circuits  |x Very large scale integration  |x Testing 
650 0 0 |a Integrated circuits  |x Very large scale integration  |x Design and construction 
650 0 0 |a Ολοκληρωμένα κυκλώματα  |x Ολοκλήρωση πολύ μεγάλης κλίμακας 
710 0 0 |a Institution of Electrical Engineers  |x Δοκιμασία 
710 0 0 |a Institution of Electrical Engineers 
952 |a GR-KoDPT  |b 59cc36026c5ad13446fb3e5f  |c 998a  |d 945l  |e TK 7874 .75  |t 2  |x m  |z Books 
952 |a GRThAnMak  |b 59cca2f76c5ad1344602a46c  |c 998a  |d 945l  |e 621.38173 HUR  |t 1  |x m  |z Books 
952 |a CY-NiOUC  |b 5a042a596c5ad14ac1e812e0  |c 998a  |d 945l  |e TK7874.H87 1998  |t 1  |x m  |z Books