VLSI testing: digital and mixed analogue/digital techniques/

Main Author: Hurst, S. L.
Corporate Author: Institution of Electrical Engineers
Format: Book
Language:English
Published: London: Institution of Electrical Engineers, c1998
Series:IEE circuits, devices and systems series 9
Subjects:
ΒιβλιοθήκηΤαξιθετικός αριθμόςΑριθμός ΑντιτύπωνΠληροφορίεςΚατάσταση
Δημοκρίτειο Πανεπιστήμιο ΘράκηςTK 7874 .752ΠροβολήOPAC
ΤΕΙ Ανατολικής Μακεδονίας & Θράκης621.38173 HUR1ΠροβολήOPAC
Πανεπιστήμιο Κύπρου - Ανοιχτό Πανεπιστήμιο ΚύπρουTK7874.H87 19981ΠροβολήOPAC