Grundlagen Tiefenwahrenhmung im Mikroskop : uber die Bestimmung der obersten Grenze des unvermeidlichen Fehlers einer Messung aus der Haufigkeitsverteilung der zufalligen Maximalfehler /

Main Author: Berek, M.
Format: Book
Language:German
Published: Berlin: Otto Elsner, 1927
Subjects:
Item Description:Reprint from: Sitzungsberichte der Gesellschaft zur Beforderug der gesamten Natuwissnschaftten zu Marburg, 62. Band, 6.Heft, Jahrgang 1927
Physical Description:p.189-223 : tabs., diagrs., figs.,stats. ; 25 cm.