Grundlagen Tiefenwahrenhmung im Mikroskop : uber die Bestimmung der obersten Grenze des unvermeidlichen Fehlers einer Messung aus der Haufigkeitsverteilung der zufalligen Maximalfehler /

Main Author: Berek, M.
Format: Book
Language:German
Published: Berlin: Otto Elsner, 1927
Subjects:
ΒιβλιοθήκηΤαξιθετικός αριθμόςΑριθμός ΑντιτύπωνΠληροφορίεςΚατάσταση
ΤΕΙ Ανατολικής Μακεδονίας & ΘράκηςΠροβολήOPAC
Εθνικό και Καποδιστριακό Πανεπιστήμιο ΑθηνώνΑΝΑ BerM g 19271ΠροβολήOPAC