On-line testing for VLSI/

Corporate Author: Kluwer
Other Authors: Nicolaidis, Michael, Zorian, Yervant
Format: Book
Language:English
Published: Boston: Kluwer Academic Publishers, c1998
Subjects:
LEADER 01232nam a2200277 a 4500
001 1927176
005 20171111235802.0
008 040921s1998 gr r 000 0 eng d
020 |a 0792381327  |q σκληρόδετο 
040 |a GR-KoDPT  |b gre  |e AACR2 
050 |a TK7867  |b .O5 1998 
082 0 |2 21  |a 621.3815/028/7 
245 0 0 |a On-line testing for VLSI/  |c edited by Michael Nicolaidis, Yervant Zorian, and Dhiraj K. Pradan 
260 0 0 |a Boston:  |b Kluwer Academic Publishers,  |c c1998 
300 0 0 |a 159 σ. :  |b εικ. ;  |c 27 εκ. 
500 0 0 |a "Reprinted from a special issue of Journal of electronic testing, theory and applications, volume 12, nos. 1 & 2, February/March 1998." 
504 0 0 |a Περιέχει βιβλιογραφικές παραπομπές και ευρετήριο 
650 0 0 |a Electronic circuits  |x Testing  |x Data processing 
650 0 0 |a Online data processing 
650 0 0 |a Electronic circuit design 
650 0 0 |a Error-correcting codes (Information theory) 
700 1 0 |a Nicolaidis, Michael 
700 1 0 |a Zorian, Yervant 
710 1 0 |a Kluwer 
952 |a GR-KoDPT  |b 59cc2cdf6c5ad13446fa6e3a  |c 998a  |d 945l  |e TK 7867  |t 1  |x m  |z Books 
952 |a CY-NiOUC  |b 5a042eef6c5ad14ac1e89453  |c 998a  |d 945l  |e TK7867.O5 1998  |t 1  |x m  |z Books