Reliability of MEMS testing of materials and devices /

Corporate Author: ebrary, Inc.
Other Authors: Tabata, Osamu.
Format: Book
Language:English
Published: Weinheim : Wiley-VCH, 2013.
Series:Advanced micro & nanosystems
Subjects:
Online Access:http://site.ebrary.com/lib/ucy/Doc?id=10682369

Internet

http://site.ebrary.com/lib/ucy/Doc?id=10682369
ΒιβλιοθήκηΤαξιθετικός αριθμόςΑριθμός ΑντιτύπωνΠληροφορίεςΚατάσταση
Πανεπιστήμιο Κύπρου - Ανοιχτό Πανεπιστήμιο Κύπρου-1ΠροβολήOPAC