Sampling, wavelets, and tomography ; Edit. John J. Benedetto, Ahmed I. Zayed

Other Authors: Benedetto, John J., Zayed, Ahmed I.
Format: Book
Language:English
Published: Boston: Birkhaeuser, c2004
Series:Applied and numerical harmonic analysis
Subjects:
ΒιβλιοθήκηΤαξιθετικός αριθμόςΑριθμός ΑντιτύπωνΠληροφορίεςΚατάσταση
Εθνικό και Καποδιστριακό Πανεπιστήμιο Αθηνών515.2433 BenJ s 20041ΠροβολήOPAC