Optical characterization of epitaxial semiconductor layers/

Other Authors: Bauer, G, Richter, Wolfgang,
Format: Book
Language:English
Published: Berlin New York: Springer-Verlag, c1996
Subjects:
ΒιβλιοθήκηΤαξιθετικός αριθμόςΑριθμός ΑντιτύπωνΠληροφορίεςΚατάσταση
Εθνικό και Καποδιστριακό Πανεπιστήμιο Αθηνών-1ΠροβολήOPAC