Characterization of crystal growth defects by X-ray methods/
| Corporate Author: | |
|---|---|
| Other Authors: | , |
| Format: | Book |
| Language: | English |
| Published: |
New York:
Plenum Press,
1980
|
| Series: | NATO advanced science institutes series. Series B, Physics ;
63 |
| Subjects: |
| Βιβλιοθήκη | Ταξιθετικός αριθμός | Αριθμός Αντιτύπων | Πληροφορίες | Κατάσταση |
|---|---|---|---|---|
| Εθνικό και Καποδιστριακό Πανεπιστήμιο Αθηνών | 548.8 TanB c 1980 | 1 | Προβολή | OPAC |