Unified optical scanning technology/

Main Author: Beiser, Leo
Format: Book
Language:English
Published: Hoboken, NJ: IEEE Press: Wiley-Interscience, c2003
Subjects:
ΒιβλιοθήκηΤαξιθετικός αριθμόςΑριθμός ΑντιτύπωνΠληροφορίεςΚατάσταση
Χαροκόπειο Πανεπιστήμιο006.62 BEI1ΠροβολήOPAC