|
|
|
|
| LEADER |
00832nam a2200217 a 4500 |
| 001 |
770403 |
| 005 |
20171111231142.0 |
| 008 |
080912t2008 xu r 000 b eng d |
| 020 |
|
|
|a 0262026499
|
| 040 |
|
|
|a GR-KeIUL
|b gre
|e AACR2 2nd rev. ed.
|
| 082 |
|
0 |
|2 22η εκδ.
|a 004.24
|
| 100 |
1 |
|
|a Baier, Christel
|
| 245 |
1 |
0 |
|a Principles of model checking/
|c Christel Baier, Joost-Pieter Katoen
|
| 260 |
|
|
|a Cambridge, Mass.
|b MIT Press,
|c [2008?]
|a London:
|
| 300 |
|
|
|a xvii, 975 σ. :
|b εικ. ;
|c 26 εκ.
|
| 500 |
|
|
|a ΤΠΛ
|
| 500 |
|
|
|a ΤΠΛ
|
| 650 |
1 |
0 |
|a Υπολογιστικά συστήματα
|x Επαλήθευση
|
| 650 |
1 |
0 |
|a Ηλεκτρονικοί υπολογιστές
|x Λογισμικό
|
| 700 |
1 |
|
|a Katoen, Joost-Pieter
|x Επαλήθευση
|
| 952 |
|
|
|a GR-KeIUL
|b 59cc2b496c5ad13446fa3699
|c 998a
|d 945l
|e 004.24 BAI
|t 2
|x m
|z Books
|
