Measurement techniques for thin films/
| Corporate Authors: | , , , |
|---|---|
| Other Authors: | , |
| Format: | Book |
| Language: | English |
| Published: |
New York:
Electronics Division and Dielectrics and Insulation Division, Electrochemical Society,
c1967
|
| Subjects: |
| Βιβλιοθήκη | Ταξιθετικός αριθμός | Αριθμός Αντιτύπων | Πληροφορίες | Κατάσταση |
|---|---|---|---|---|
| Δημοκρίτειο Πανεπιστήμιο Θράκης | QC 176 .835 | 1 | Προβολή | OPAC |