Materials analysis by ion channeling Submicron crystallography

Main Author: Feldman, Leonard C.
Other Authors: Mayer, James W., Picraux, S. T.
Format: Book
Published: New York: Academic Pr., Inc., 1982
Subjects:
LEADER 00796nam a2200265 a 4500
001 697579
005 20171111230503.0
008 971119s1982----gr r u000 0 Eng d
020 |a 0122526805 
040 |a GR-AtNTU  |b gre 
082 0 |a 620.11299 
100 1 |a Feldman, Leonard C. 
245 1 0 |a Materials analysis by ion channeling  |b Submicron crystallography 
260 |a New York:  |b Academic Pr., Inc.,  |c 1982 
300 |a xix, 300p. ;  |c 8ob. 
504 |a Bibliography 235-295p. 
504 |a Index 296-300p. 
650 1 0 |a Microphysical Channeling 
650 1 0 |a Solids  |x Surfaces 
650 1 0 |a Crystals  |x - Defects 
650 1 0 |a Ion Beams 
650 1 0 |a Crystallography 
700 1 |a Mayer, James W. 
700 1 |a Picraux, S. T. 
952 |a GR-AtNTU  |b 59cc20396c5ad13446f87bb6  |c 998a  |d 945l  |e -  |t 1  |x m  |z Books