Cover Image

Θεωρία μετρήσεων και σφαλμάτων αναλυτική και εποπτική διεπιστημονική προσέγγιση και εφαρμογές

Main Author: Στείρος, Στάθης Κ.
Format: Book
Language:Greek
Published: Αθήνα Εκδόσεις Συμμετρία c2010
Subjects:
Γεωδαιτικά δίκτυα > Διδακτικά βιβλία
Physical Description:256 σ. εικ. 24 εκ.
Bibliography:Βιβλιογραφία: σ. [247]-248
ISBN:978-960-266-293-9

Similar Items