Accelerated testing: statistical models, test plans, and data analysis/

Main Author: Nelson, Wayne B.
Corporate Author: Wiley-Interscience
Format: Book
Language:Greek
Published: New Jersey: Wiley-Interscience, c2002
Series:Wiley series in probability and statistics
Subjects:
ΒιβλιοθήκηΤαξιθετικός αριθμόςΑριθμός ΑντιτύπωνΠληροφορίεςΚατάσταση
Εθνικό Μετσόβιο Πολυτεχνείο519.5 NEL4ΠροβολήOPAC
Ελληνικό Ανοικτό Πανεπιστήμιο519.5 NEL2ΠροβολήOPAC